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X射線熒光光譜儀(XRF)


儀器介紹


X射線熒光光譜儀是一種用于分析樣品中元素組分的科學(xué)儀器。它利用X射線激發(fā)樣品的原子,并測(cè)量樣品熒光產(chǎn)生的特定能量的光譜。通過分析樣品中各個(gè)元素特有的熒光峰,可以得出樣品中元素的種類和含量信息。貝拓科學(xué)X射線熒光光譜 THOR X具有高分辨率、高準(zhǔn)確性和快速分析的特點(diǎn),適用于多種領(lǐng)域,如材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、地質(zhì)探測(cè)等。


工作原理


通過利用X射線激發(fā)樣品并觀察其發(fā)射的熒光X射線來分析樣品中的元素組成。首先,X射線管產(chǎn)生高能量的X射線束,這些X射線穿過樣品并與樣品中的原子相互作用。這種相互作用會(huì)導(dǎo)致樣品原子內(nèi)部的電子被激發(fā)出來,形成空位。隨后,外層電子會(huì)填補(bǔ)這些空位,產(chǎn)生特定能量的熒光X射線。熒光X射線的能譜經(jīng)過探測(cè)器檢測(cè)和分析,記錄下樣品中存在的元素及其相對(duì)含量。最后,通過專業(yè)軟件對(duì)這些數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析,可以準(zhǔn)確確定樣品中各種元素的含量。


儀器特點(diǎn)


●?寬波段范圍:該儀器能夠覆蓋廣泛的元素范圍,包括輕元素到重元素的檢測(cè)

●?高精度:儀器采用先進(jìn)的檢測(cè)技術(shù)和精確的分析算法,能夠提供準(zhǔn)確的元素定量分析結(jié)果

●?非破壞性分析:使用X射線激發(fā)樣品,無需破壞樣品的完整性,可以對(duì)寶貴或難以獲取的樣品進(jìn)行分析

●?快速分析:儀器具有高效的樣品處理和分析速度,能夠在短時(shí)間內(nèi)完成大量樣品的分析,提高工作效率

●?高靈敏度:儀器具有高靈敏度的探測(cè)器,能夠檢測(cè)到微量元素的存在,并提供可靠的分析結(jié)果

●?用戶友好性:儀器采用直觀的操作界面和簡(jiǎn)單易用的軟件,方便操作者進(jìn)行樣品分析和數(shù)據(jù)處理


應(yīng)用領(lǐng)域


● 材料分析

● 考古學(xué)和文物保護(hù)

● 地質(zhì)和礦物學(xué)

● 醫(yī)學(xué)和生物學(xué)

● 食品和農(nóng)業(yè)

● 環(huán)境監(jiān)測(cè)

● 建筑材料



技術(shù)參數(shù)


型?? 號(hào) THOR-X Pin THOR-X SDD
元素分析范圍 硫(S)~鈾 (U) 硫(S)~鈾 (U)
含量分析范圍 1ppm~99.99% 1ppm~99.99%
同時(shí)分析元素 一次性可測(cè)30種以上元素 一次性可測(cè)30種以上元素
RoHS指令檢測(cè)元素 Cd/Pb/Cr/Hg/Br Cd/Pb/Cr/Hg/Br
測(cè)量時(shí)間 60~300s 60~300s
激發(fā)功率 50W 50W
探測(cè)器 Si-Pin SDD
探測(cè)器能量分辨率 可達(dá)139 eV@5.9keV(Fe55) 可達(dá)125 eV@5.9keV(Fe55)
制冷 2級(jí) 2級(jí)
測(cè)量對(duì)象 固體、粉末、液體 固體、粉末、液體
主機(jī)重量 45kg 45kg
工作條件 AC 220V/5A,0~40℃,濕度 AC 220V/5A,0~40℃,濕度


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